音響計測技術コラム

無響室における測定可能下限周波数

2025年1月22日

音響パワー測定

無響室における「測定可能下限周波数」とは文字通り、無響室内で測定する音の最も低い周波数のことです。

測定対象周波数帯が200〜4000Hzだとすると、200Hzが測定可能下限周波数にあたります。

無響室の設計上、測定可能下限周波数から測定可能範囲を設定、吸音層の設定、測定方法、マイクロホンの配置などが決定されますので重要です。

測定可能下限周波数とカットオフ周波数の違い

測定可能下限周波数とカットオフ周波数は似て非なるものです。
カットオフ周波数は、無響室に使用する吸音体単体の吸音率が、対象周波数において0.99、吸音体の厚さがλ/4以上となることをいいます。一方で、測定可能下限周波数は無響室自体の吸音性から判断されます。

無響室の設計法は、国際規格ISO3745:2003（付属書K3）に示されています。（推奨）しかし、ISO3745:2012版では付属書Kが削除されています。

ISO3745:2003		ISO3745:2012
無響室の壁、天井面に施工する吸音材は対象の周波数で0.99以上の垂直入射吸音率とする。	→	該当記述が削除されました
空気層を含む吸音材（吸音クサビ）の長さはλ/4とする。	→	該当記述が削除されました

このことから、現在ではカットオフ周波数という表現は測定可能下限周波数に置き換わってきています。

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